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SIRIUS Compact Scan系列三维扫描仪

发布日期:2017-06-26  【打印此页】  【关闭




SIRIUS Compact Scan 1.3M

经典型三维光学扫描仪


作为一款轻便、高度移动性的3D 光学扫描仪,SIRIUS Compact Scan 系列同样采用蓝光技术, 结合ScanTEK Softeware 专业测量软件, 为您提供一套完整的, 性价比更高的扫描系统。

产品特点:
智能三维光学动态测量技术,自动拼接,轻松获取工件表面高精度、高密度的三维点云数据;
面轮廓扫描方式,极高效率,高分辨率的体现工件细节;
通过安装不同的镜头组,可以覆盖数毫米至数米范围内的工件扫描,不仅扫描速度快,还可以兼顾边界、特征的扫描;
扫描头通过特殊防护设计,可以实现生产车间的现场测量;
千兆网络数据接口设计,保障了数据传输的同时,不失真。




技术规格:  



SIRIUS Compact Scan 1.3M

测量点

2x1,300,000

测量点距

0.03-0.12mm

工作距离

200-330mm

扫描时间:秒

3秒

电缆长度

3-10m

PC

台式64位高端工作站,配置WIN7

可用软件

ScanTEK Software

扫描测头支撑

三角架或立柱式支架

工作温度

5-40


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